EBSD測定によるNiめっきの粒径測定

カテゴリ
エレクトロニクス  自動車・航空機・宇宙  材料・素材  元素・組成分析  分析事例 
タグ
金属、セラミックス、ガラス  電子部品、ウェーハ  変色  劣化  組成分布 

眞瀨 江理子

B!
特徴

EBSD測定による金属組織の粒径測定では、FE-SEM装置で測定を行い、1ピクセル事に測定した結晶方位データから結晶粒界の判別をするため、高解像度で粒径測定が可能です。
粒子測定の事例としてNiメッキの粒子径を測定した事例を紹介します。

詳細PDFをダウンロード

受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について

技術課題に対して現象把握~原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。

受託分析と微細加工(FIB加工)へのお問い合わせはこちら

関連記事

FT-IR(フーリエ変換赤外分光法)を用いた食品包装用フィルムの分析

目的 食品包装用フィルムは、多くの場合多層フィルムが使用されています。FT-IRを用いて多層フィルム...

半導体接合膜上のシミのAFM観察

目的 半導体接合膜上のシミをAFM観察し凹凸情報を取得することで、接合時に影響を及ぼす因子と成り得る...