XRF-薄膜FP法による膜厚測定
背景 蛍光X線分析（XRF）による非破壊での膜厚測定法は広く知られていますが、分析対象試料と標準試料...
鈴木 誠
| 目的 | ばね材の加工工程（伸線Φ1.00㎜→0.07㎜）における金属組織変化を調査 |
|---|---|
| 手法 | ・走査電子顕微鏡(SEM） ・電子線後方散乱回折法（EBSD） |
| 結果 | 伸線後に金属組織が変化している様子を確認できた |
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