赤外顕微鏡(FT-IR装置)によるシリコン膜厚測定
目的 シリコン薄膜の膜厚測定 手法 赤外顕微鏡によるピンポイントでの反射測定、および膜厚換算 結果 ...
鈴木 誠
| 目的 | 食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定を行う |
|---|---|
| 手法 | ウルトラミクロトーム、SEM/EDX、熱分析（動的粘弾性測定DMA）、AFM（弾性率マッピング）による多角的解析 |
| 結果 | 小麦でんぷん粒、グルテン（蛋白質）の構造、成分及び弾性率が分かった |
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