鈴木 誠
技術課題に対して現象把握~原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
目的 シリコン薄膜の膜厚測定 手法 赤外顕微鏡によるピンポイントでの反射測定、および膜厚換算 結果 ...
目的 減圧下でのシュウ酸カルシウム・水和物の熱分解の測定 手法 減圧TG-DTAによる 結果 測定圧...