本田 清樹
AFMはプローブ（探針）と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微小領域の表面形状観察や物性を測定する顕微鏡です。三次元形状と物性の高倍率同時観察や環境制御（大気、真空、温度可変）にも対応可能です。
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
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