XRF-薄膜FP法による膜厚測定
背景 蛍光X線分析（XRF）による非破壊での膜厚測定法は広く知られていますが、分析対象試料と標準試料...
鈴木 誠
| 目的 | 炭素鋼表面に生じたサビ2種が何かを特定する |
|---|---|
| 手法 | ラマン分光分析 |
| 分析の特徴 | ・試料からのラマン散乱光を測定することで、分子構造や結晶構造を知ることができる ・レーザー光を使用するため、Φ1μm～の微小領域の分析が可能 |
| 結果 | サビはヘマタイト（α-酸化第二鉄）、レピドクロサイト（γ-オキシ水酸化鉄）と判明 |
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