高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化)

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鈴木 誠

B!
特徴 ・クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の超薄切片作製が可能
・その切片の表面は極めて平滑であるため、AFM(原子間力顕微鏡)や多機能モード評価にも活用が可能
・SISモードの位相測定を用いることで、サンプル内部のドメイン構造の高分解能観察が可能

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