XRF-薄膜FP法による膜厚測定
背景 蛍光X線分析（XRF）による非破壊での膜厚測定法は広く知られていますが、分析対象試料と標準試料...
鈴木 誠
| 目的 | 生体試料(モルフォ蝶鱗粉)の断面観察を行う |
|---|---|
| 手法 | 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM） |
| 手法の特徴 | FE-SEMの低真空モードにより、前処理（蒸着）無しでの観察が困難な試料（絶縁体、含水・含油物質、多量のガスを放出する試料）の観察・分析が可能 |
| 結果 | ・鱗粉表面に無数の筋構造が見られた ・断面観察により筋には約200nm幅の棚構造があることが確認できた |
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。