XRF-薄膜FP法による膜厚測定
背景 蛍光X線分析（XRF）による非破壊での膜厚測定法は広く知られていますが、分析対象試料と標準試料...
鈴木 誠
| 目的 | 温度変調DSC法の紹介 |
|---|---|
| 手法 | 温度変調DSCによりPETを評価する |
| 結果 | 温度変調DSCは、通常のDSCでは得られない多くの情報が得られ以下が可能 ・可逆成分と不可逆成分の比較による熱履歴等の判別 ・JIS法による比熱測定では困難とされていた、1000℃付近以上の高温領域での比熱測定 ・室温以下の低温領域での比熱測定 |
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。