XRF-薄膜FP法による膜厚測定
背景 蛍光X線分析（XRF）による非破壊での膜厚測定法は広く知られていますが、分析対象試料と標準試料...
鈴木 誠
| 目的 | 測定雰囲気の違いにより、測定データにどのような影響があるかを確認する |
|---|---|
| 手法 | 空気雰囲気、窒素雰囲気におけるTG-DTA測定 |
| 結果 | 熱分析では現象を正しく把握するために最適な雰囲気の選択が重要であることが分かった |
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。