XPSによる材料表面の変色調査
| 目的 | ニッケルめっきの変色の原因を探る |
|---|---|
| 手法 | Ｘ線光電子分光分析(XPS) |
| 手法の特徴 | ・試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色の分析、表面処理の評価に有効 ・元素の特定だけでなく元素の結合状態の解析も可能 |
| 結果 | Niめっきの表面酸化が著しく、これが外観の色調に影響していることが判明 |
受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートいたします。お気軽にご相談ください。
