2023/11/06 赤外顕微鏡(FT-IR装置)によるシリコン膜厚測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 表面分析 構造解析 分析事例 #MEMSプロセス#センサー#電子部品、ウェーハ#半導体#半導体プロセス#膜厚
2023/10/10 FFMのフリクショ ナルカーブによる摩擦⼒測定 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #フィルム#プラスチック、樹脂、ゴム#金属、セラミックス、ガラス#食品・食品容器・包装材#電子部品、ウェーハ
2023/06/26 高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化) 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #劣化#化学品・化成品#プラスチック、樹脂、ゴム#フィルム#接着剤、接合剤#医薬品#化粧品#食品・食品容器・包装材
2023/06/26 AFMによる食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定 食品 形態観察 分析事例 #フィルム#プラスチック、樹脂、ゴム#医薬品#化学品・化成品#化粧品#食品・食品容器・包装材#接着剤、接合剤
2023/06/26 AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 分析事例 #センサー#集束イオンビーム装置（FIB）分析#走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#半導体#半導体プロセス
