2024/11/21 半導体接合膜上のシミのAFM観察 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#MEMSプロセス#半導体プロセス#異物・不純物
2024/11/21 走査型プローブ顕微鏡のご紹介 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#実装#異物・不純物#組成分布
2024/11/21 セラミックコンデンサの微小部断面分析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#実装#異物・不純物#組成分布
2024/11/21 GaN半導体デバイス(LED)の断面解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #半導体#電子部品、ウェーハ#半導体プロセス#異物・不純物#組成分布
2023/06/26 STEMによるコネクタ端子接点不良解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 形態観察 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#異物・不純物#組成分布
2023/06/26 FIBによる半導体の断面作製 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 断面分析 FIB微細加工 微細加工事例 #集束イオンビーム装置（FIB）分析#集束イオンビーム装置（FIB）加工#半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#MEMSプロセス#半導体プロセス#異物・不純物
