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2023/06/26 AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 分析事例 #集束イオンビーム装置(FIB)分析#走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)分析#半導体#電子部品、ウェーハ#センサー#半導体プロセス