2024/11/21 半導体接合膜上のシミのAFM観察 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#MEMSプロセス#半導体プロセス#異物・不純物
2024/11/21 温度可変AFMによるレジストパターンの測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#MEMSプロセス#半導体プロセス
2024/11/21 走査型プローブ顕微鏡のご紹介 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#実装#異物・不純物#組成分布
2024/11/21 セラミックコンデンサの微小部断面分析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#実装#異物・不純物#組成分布
2024/11/21 GaN半導体デバイス(LED)の断面解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #半導体#電子部品、ウェーハ#半導体プロセス#異物・不純物#組成分布
2024/06/28 STEM/EDS分析による Ni-Feめっき界面の観察、分析 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#変色#劣化#組成分布
2024/06/28 EBSD測定によるNiめっきの粒径測定 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#変色#劣化#組成分布
2024/06/28 高クロム合金中の析出物（σ相）の調査 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 構造解析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#機械加工#破損・破壊#結晶構造
2024/06/28 ボンディング部の断面観察 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 元素･組成分析 微細加工事例 #半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#劣化#腐食防食
