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走査型プローブ顕微鏡のご紹介

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走査型プローブ顕微鏡のご紹介
特徴

AFMはプローブ(探針)と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微小領域の表面形状観察や物性を測定する顕微鏡です。
三次元形状と物性の高倍率同時観察や環境制御(大気、真空、温度可変)にも対応可能です。

受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について

技術課題に対して現象把握~原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。

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