2024/11/21 半導体接合膜上のシミのAFM観察 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#MEMSプロセス#半導体プロセス#異物・不純物
2024/11/21 温度可変AFMによるレジストパターンの測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#電子部品、ウェーハ#MEMSプロセス#半導体プロセス
2024/06/28 ボンディング部の断面観察 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 元素･組成分析 微細加工事例 #半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#劣化#腐食防食
2023/10/10 FFMのフリクショ ナルカーブによる摩擦⼒測定 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#プラスチック、樹脂、ゴム#フィルム#食品・食品容器・包装材#電子部品、ウェーハ
2023/06/26 高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化) 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #化学品・化成品#プラスチック、樹脂、ゴム#接着剤、接合剤#フィルム#医薬品#化粧品#食品・食品容器・包装材#劣化
2023/06/26 AFMによる食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定 食品 形態観察 分析事例 #化学品・化成品#プラスチック、樹脂、ゴム#接着剤、接合剤#フィルム#医薬品#化粧品#食品・食品容器・包装材
2023/06/26 AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 分析事例 #集束イオンビーム装置（FIB）分析#走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析#半導体#電子部品、ウェーハ#センサー#半導体プロセス
