真空中でのAFM導電性測定
| 特徴 | ・大気の影響を低減した測定が可能（真空中測定） ・形状及び導電性を同時にマッピング表示 ・測定エリア：最大150μm□エリアまで可能 |
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受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
| 特徴 | ・大気の影響を低減した測定が可能（真空中測定） ・形状及び導電性を同時にマッピング表示 ・測定エリア：最大150μm□エリアまで可能 |
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