2023/11/06 赤外顕微鏡(FT-IR装置)によるシリコン膜厚測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 表面分析 構造解析 分析事例 #MEMSプロセス#センサー#電子部品、ウェーハ#半導体#半導体プロセス#膜厚
2023/10/10 FFMのフリクショ ナルカーブによる摩擦⼒測定 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #フィルム#プラスチック、樹脂、ゴム#金属、セラミックス、ガラス#食品・食品容器・包装材#電子部品、ウェーハ
2023/06/26 AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 分析事例 #センサー#集束イオンビーム装置(FIB)分析#走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)分析#電子部品、ウェーハ#半導体#半導体プロセス
2023/06/26 STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 形態観察 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #センサー#金属、セラミックス、ガラス#接合接着#組成分布#電子部品、ウェーハ#半導体#半導体プロセス
2023/06/26 STEMによるコネクタ端子接点不良解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 形態観察 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#半導体#異物・不純物#組成分布
2023/06/26 AFMとAESによるメッキ部品の加熱影響評価 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 表面分析 元素・組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#組成分布#電子部品、ウェーハ#変色#劣化
2023/06/26 GD-OESによる変色したステンレスの組成調査 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 表面分析 構造解析 元素・組成分析 分析事例 #フィルム#金属、セラミックス、ガラス#組成分布#電子部品、ウェーハ#変色#劣化