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STEM/EDS分析による Ni-Feめっき界面の観察、分析

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STEM/EDS分析による Ni-Feめっき界面の観察、分析
特徴

めっきの密着力は油膜汚れや、不動態膜など基材の表面状態が影響します。表面状態の変化は、数nm~数十nmの領域であり、高分解能の分析が要求されます。
めっき界面の分析事例として、剥がれが発生したNi-Feめっきにおいて、STEM/EDS分析でめっきと基板の界面の状態を調査した事例を紹介します。

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技術課題に対して現象把握~原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。

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