めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定)
| 目的 | めっき工程前の基板洗浄効果を調査 |
|---|---|
| 手法 | グロー放電発光分析装置（GD-OES） |
| 結果 | ステンレス基板表面のC元素（カーボン）が減少しており洗浄効果を確認 |
受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートいたします。お気軽にご相談ください。
| 目的 | めっき工程前の基板洗浄効果を調査 |
|---|---|
| 手法 | グロー放電発光分析装置（GD-OES） |
| 結果 | ステンレス基板表面のC元素（カーボン）が減少しており洗浄効果を確認 |
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートいたします。お気軽にご相談ください。
