化合物半導体の断面観察
目的 | 化合物半導体に対して、FIB-SEMで断面作製・観察を実施しました。 |
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受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について
技術課題に対して現象把握~原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
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