FIBによる配線修正・回路修正
| 特徴 | 集束イオンビーム加工(FIB)により半導体内部の回路修正・配線修正を短納期、⾼歩留まりで実施、お客様の半導体開発、製造のお⼿伝いをさせていただいております |
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受託分析・微細加工(FIB加工)のご依頼について
技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
| 特徴 | 集束イオンビーム加工(FIB)により半導体内部の回路修正・配線修正を短納期、⾼歩留まりで実施、お客様の半導体開発、製造のお⼿伝いをさせていただいております |
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技術課題に対して現象把握～原因推定をお客様と一緒に考え、科学的な視点で調査することにより、原因究明や対策立案をサポートします。お気軽にご相談ください。
