2023/11/06 赤外顕微鏡(FT-IR装置)によるシリコン膜厚測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 表面分析 構造解析 分析事例 #MEMSプロセス #センサー #電子部品、ウェーハ #半導体 #半導体プロセス #膜厚
2023/10/10 FFMのフリクショ ナルカーブによる摩擦⼒測定 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #フィルム #プラスチック、樹脂、ゴム #金属、セラミックス、ガラス #食品・食品容器・包装材 #電子部品、ウェーハ
2023/06/27 FIBによる配線修正・回路修正 半導体 FIB回路・配線修正 回路修正・配線修正 微細加工事例 #集束イオンビーム装置（FIB）加工 #電子部品、ウェーハ #半導体 #半導体プロセス
2023/06/26 高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化) 一般材料 材料・素材 形態観察 分析事例 #劣化 #化学品・化成品 #プラスチック、樹脂、ゴム #フィルム #接着剤、接合剤 #医薬品 #化粧品 #食品・食品容器・包装材
2023/06/26 AFMによる食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定 食品 形態観察 分析事例 #フィルム #プラスチック、樹脂、ゴム #医薬品 #化学品・化成品 #化粧品 #食品・食品容器・包装材 #接着剤、接合剤
2023/06/26 AFM表面測定及びFIB断面観察による構造解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 形態観察 断面分析 分析事例 #センサー #集束イオンビーム装置（FIB）分析 #走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）分析 #電子部品、ウェーハ #半導体 #半導体プロセス
