2024/11/21 半導体接合膜上のシミのAFM観察 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)分析 #電子部品、ウェーハ #MEMSプロセス #半導体プロセス #異物・不純物
2024/11/21 温度可変AFMによるレジストパターンの測定 半導体 エレクトロニクス 材料・素材 形態観察 分析事例 #走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)分析 #電子部品、ウェーハ #MEMSプロセス #半導体プロセス
2024/11/21 走査型プローブ顕微鏡のご紹介 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス #電子部品、ウェーハ #実装 #異物・不純物 #組成分布
2024/11/21 セラミックコンデンサの微小部断面分析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス #電子部品、ウェーハ #実装 #異物・不純物 #組成分布
2024/11/21 GaN半導体デバイス(LED)の断面解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #半導体 #電子部品、ウェーハ #半導体プロセス #異物・不純物 #組成分布
2024/06/28 STEM/EDS分析による Ni-Feめっき界面の観察、分析 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 元素・組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス #電子部品、ウェーハ #変色 #劣化 #組成分布