2023/06/26 STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 形態観察 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#半導体プロセス#接合接着#組成分布
2023/06/26 サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 断面分析 構造解析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#破損・破壊#応力・歪み解析#結晶構造
2023/06/26 STEMによるコネクタ端子接点不良解析 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 形態観察 断面分析 元素･組成分析 分析事例 #半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#異物・不純物#組成分布
2023/06/26 AFMとAESによるメッキ部品の加熱影響評価 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 材料・素材 表面分析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#変色#劣化#組成分布
2023/06/26 GD-OESによる変色したステンレスの組成調査 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 表面分析 構造解析 元素･組成分析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#フィルム#電子部品、ウェーハ#変色#劣化#組成分布
2023/06/26 めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定) 半導体 エレクトロニクス 一般材料 材料・素材 表面分析 構造解析 分析事例 #金属、セラミックス、ガラス#フィルム#電子部品、ウェーハ#変色#劣化#組成分布
2023/06/26 FIBによるナノレベル高精度加工 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 FIB微細加工 医療 微細加工 通信 微細加工事例 #試料作成#試作品作成#集束イオンビーム装置（FIB）分析#集束イオンビーム装置（FIB）加工#半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#MEMSプロセス#半導体プロセス
2023/06/26 FIBによるパターン描画 半導体 エレクトロニクス 自動車・航空機・宇宙 一般材料 材料・素材 FIB微細加工 微細加工 微細加工事例 #試料作成#試作品作成#集束イオンビーム装置（FIB）分析#集束イオンビーム装置（FIB）加工#半導体#金属、セラミックス、ガラス#電子部品、ウェーハ#センサー#MEMSプロセス#半導体プロセス
